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簡(jiǎn)要描述:KOSAKA LAB ET 200A微型輪廓儀(光學(xué)檢測(cè))是株式會(huì)社小坂研究所的高精度微細(xì)形狀測(cè)定機(jī),基于Windows系統(tǒng),采用金剛石探針接觸測(cè)量,適用于多種材料表面形貌分析,如臺(tái)階、粗糙度等,配備多樣探針,操作直觀便捷,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電等領(lǐng)域。
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1. 樣品臺(tái)規(guī)格:
樣品臺(tái)尺寸:Φ160mm
大工件尺寸:Φ200mm
大工件厚度:52mm
大工件重量:2kg
縱向調(diào)整范圍:2.5" (±5mm/160mm)
樣品臺(tái)材質(zhì):黑色硬質(zhì)鉛
手動(dòng)旋轉(zhuǎn):360°(手動(dòng)粗調(diào))、±5°(微調(diào),小約0.5°)
2. 傳感器參數(shù):
原理:光柵式傳感器
Z方向測(cè)定范圍:Max. 600μm
Z方向小分辨率(隨放大倍率變化):
x5,000倍時(shí):10nm ±300μm
x10,000倍時(shí):5nm ±160μm
x20,000倍時(shí):2.5nm ±80μm
x50,000倍時(shí):1nm ±32μm
x100,000倍時(shí):0.5nm ±16μm
x200,000倍時(shí):0.25nm ±8μm
x500,000倍時(shí):0.1nm ±3.2μm
x1,000,000倍時(shí):0.05nm ±1.6μm
x2,000,000倍時(shí):0.025nm ±0.8μm
測(cè)定力:10μN(yùn)~500μN(yùn)
觸針半徑:2μm 60° 鉆石針頭(另有多種可選)
驅(qū)動(dòng)方式:直流伺服
重復(fù)性:te = 0.2nm (1μm以下臺(tái)階時(shí))
3. X軸(基準(zhǔn)軸/測(cè)量軸)參數(shù):
移動(dòng)量(大行程):100mm (±50mm)
直線度:0.2μm/100mm (全量程),5nm/5mm (局部)
移動(dòng)速度:0.005~20mm/s
線性度(linear scale):X方向分辨率 0.1μm
位置重復(fù)誤差:±5nm
以下是詳細(xì)列出的機(jī)械臂參數(shù)和功能:
4. Z軸參數(shù):
移動(dòng)量:54mm
移動(dòng)速度:大2.0mm/S
檢出器自動(dòng)停止機(jī)能
5. Y軸參數(shù)(手動(dòng)定位用):
移動(dòng)量:25mm(±12.5mm)
6. 工作觀察參數(shù):
彩色1/3"CCD,配備x4物鏡倍率
綜合倍率:約320倍(使用19"顯示器時(shí))
視野范圍:1.2mm x 0.9mm
觀察方向:右側(cè)斜視
照明系統(tǒng):白色LED,支持軟件調(diào)整明暗度
7. 軟件功能簡(jiǎn)介:
型號(hào):i-STAR31
可設(shè)定測(cè)量條件菜單、重復(fù)測(cè)量設(shè)定及解析菜單
支持設(shè)定下針坐標(biāo),實(shí)現(xiàn)定位后自動(dòng)測(cè)量及解析功能
配備低通濾波功能,有效過(guò)濾噪音及雜訊
具有返回測(cè)量起始點(diǎn)功能
顯示倍率范圍:垂直方向502,000,000倍,縱方向110,000倍
強(qiáng)大的解析功能,包括主要圖形、段差解析、粗糙度解析、內(nèi)應(yīng)力分析及多種段差解析選項(xiàng)
8. 其他參數(shù):
床臺(tái)材質(zhì):一體花崗巖
防振臺(tái)(選購(gòu)):提供落地型或桌上型選項(xiàng)
電源規(guī)格:AC220V±10%,50/60HZ,300VA本體外觀尺寸及重量:W500×D440×H610mm,重120kg,采用一體花崗巖低重心結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)(不含防振臺(tái))
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